Das Fischerscope X-Ray XDV-SDD ist ein universell einsetzbares energiedispersives Röntgenfluoreszenz-Messgerät. Es ist prädestiniert für die Messung und Analyse sehr dünner Schichten oder kleiner Konzentrationswerte in der Spurenanalyse. Mit dem hochpräzisen programmierbaren X/Y-Tisch und der Zungenfunktion für schnelles Beschicken ist es optimal für die automatisierte Probenmessung geeignet.
Typische Einsatzgebiete sind:
- Analyse dünner und sehr dünner Beschichtungen, z.B. Gold-/Palladiumschichten von ≤ 0,1 µm
- Spurenanalyse auf Leiterplatten nach RoHS- und WEEE-Anforderungen
- Goldanalyse
- Messung funktionaler Schichten in der Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Bestimmung komplexer Mehrschichtsysteme
- Automatisierte Messungen z.B. in der Qualitätskontrolle